產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心ROSH光譜合金分析系列X熒光光譜儀TY-9800型X熒光光譜儀
TY-9800型X熒光光譜儀由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),激發(fā)被測(cè)樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線(xiàn)),探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
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激發(fā)方式 | 火花 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
檢測(cè)器類(lèi) | 電荷耦合元件(CCD) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),冶金,航天,汽車(chē) |
產(chǎn)品分類(lèi):X熒光光譜儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),激發(fā)被測(cè)樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線(xiàn)),探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
產(chǎn)品詳情
TY-9800型X熒光光譜儀由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),激發(fā)被測(cè)樣品,產(chǎn)生X熒光(二次X射線(xiàn)),探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線(xiàn)的強(qiáng)度,可以 測(cè)定元素含量。
近年來(lái),X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
a) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān),但一般都很短,10~300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。
b) X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。
c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法,所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。
f) 制樣簡(jiǎn)單,固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
a) 定量分析需要標(biāo)樣。
b)對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
c)容易受元素相互干擾和疊加峰影響。